一项物理学研究测量了铜氧化物中的电噪声，以阐明超导体中的赝能隙现象

一个国际物理学家团队在《科学》杂志上发表了一项研究，分析了铜氧化物材料中的电流涨落。该研究利用扫描 tunneling 显微镜（隧道显微镜）来测量散粒噪声，并检验高温超导体中赝能隙状态的起源。

近四十年来，科学界一直在争论为什么电子在铜氧化物达到超导性之前的某些能级上似乎会消失，这种状态被称为赝能隙。两个主要的假设从电子的冻结图案到电子对（库珀对）的预先形成不等。

为了解开这个谜团，由米兰·艾伦（Milan Allan）和英格玛·斯瓦特（Ingmar Swart）领导的研究人员测量了“散粒噪声”——由电流中单个电荷到达引起的微小涨落。通过观察冷却至接近绝对零度的BSCCO晶体样品，他们证实与电子配对相关的噪声增加恰好出现在赝能隙的能量处。

此外，施加高达6特斯拉的磁场使得能够证实，在抑制该配对时，噪声会向单个电子水平降低。结果表明，这些材料中的瓶颈不是电子对的形成，而是获得它们共同移动所需的相干性。